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  • 半导体面板接触角测量仪

    半导体面板接触角测量仪利用机器视觉技术,自动识别基线和液滴轮廓,以拉普拉斯方程为理论基础进行二次曲线拟合计算,得到接触角值。减小了重力对液滴形状的影响,消除了人为测试误差。对于基线特征明显的图片可以实现全自动测试,对于基线特征不明显的图片需要手工指定基线位置。

    更新时间:2025-06-04
    产品型号:
    浏览量:189
  • 水滴角测量仪

    水滴角测量仪利用机器视觉技术,自动识别基线和液滴轮廓,以拉普拉斯方程为理论基础进行二次曲线拟合计算,得到接触角值。减小了重力对液滴形状的影响,消除了人为测试误差。对于基线特征明显的图片可以实现全自动测试,对于基线特征不明显的图片需要手工指定基线位置。

    更新时间:2025-06-04
    产品型号:
    浏览量:115
  • 水滴角测试仪

    水滴角测试仪 利用机器视觉技术,自动识别基线和液滴轮廓,以拉普拉斯方程为理论基础进行二次曲线拟合计算,得到接触角值。减小了重力对液滴形状的影响,消除了人为测试误差。对于基线特征明显的图片可以实现全自动测试,对于基线特征不明显的图片需要手工指定基线位置。

    更新时间:2025-06-04
    产品型号:
    浏览量:122
  • 接触角测试仪

    接触角测试仪 利用机器视觉技术,自动识别基线和液滴轮廓,以拉普拉斯方程为理论基础进行二次曲线拟合计算,得到接触角值。减小了重力对液滴形状的影响,消除了人为测试误差。对于基线特征明显的图片可以实现全自动测试,对于基线特征不明显的图片需要手工指定基线位置。

    更新时间:2025-06-04
    产品型号:
    浏览量:131
  • 接触角测量仪

    接触角测量仪 利用机器视觉技术,自动识别基线和液滴轮廓,以拉普拉斯方程为理论基础进行二次曲线拟合计算,得到接触角值。减小了重力对液滴形状的影响,消除了人为测试误差。对于基线特征明显的图片可以实现全自动测试,对于基线特征不明显的图片需要手工指定基线位置。

    更新时间:2025-06-04
    产品型号:
    浏览量:105
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